Persönliches Diplom-Mathematiker Adresse Klagenfurter Str. 2 D-28359 Bremen Tel.: 0421 - 218 58011 E-Mail: kreis@bias.de

1. DGaO Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik
2. OSA Optical Society of America
3. SPIE The International Society for Optical Engineering

Thomas Kreis studierte an der Georg-August-Universität zu Göttingen Mathematik, Physik und Chemie und schloss das Studium als Diplom-Mathematiker ab. Anschließend arbeitete er drei Jahre als wissenschaftlicher Mitarbeiter am Institut für Messtechnik im Maschinenbau der Universität Hannover. 1980 wechselte er zum Bremer Institut für angewandte Strahltechnik - BIAS, wo er zunächst für die theoretischen Grundlagen und die Rechenanlage zuständig war. 1986 promovierte er als Externer zum Dr.-Ing. an der Fakultät für Maschinenwesen der Universität Hannover. Von 1986 an war Dr. Kreis Leiter der Abteilung Laser-Messtechnik, später umbenannt in Kohärente Optik, am BIAS. Seit 2000 ist Dr. Kreis Lehrbeauftragter im Fachbereich Physik/Elektrotechnik an der Universität Bremen, wo er sich 2006 für das Fachgebiet Angewandte Optik habilitierte.

1. Hans-Rottenkolber-Preis für außergewöhnliche Leistungen in der holografischen Messtechnik 1987
2. Aufnahme der Veröffentlichung "Digital holographic interference-phase measurement using the Fourier-transform method" von 1986 in SPIE Milestone Series, vol. MS 110 in 1996
3. Aufnahme der Veröffentlichung "Holographic interferometry with reference beams modulated by the object motion" von 1987 in SPIE Milestone Series, vol. MSxxx in 199x

1. Lehraufträge für "Angewandte Optik" am Fachbereich Physik / Elektrotechnik der Universität Bremen
2. Leitung von Seminaren zum Thema "Lasermesstechnik" und "Lasergestützte Messtechnik in Fertigung und Qualitätssicherung" am Haus der Technik, Essen
3. Short Course "Digital Holography", Nanyang Technological University, Singapore
4. Short Course "Digital Holography", Warsaw University of Technology, Poland

Monographien

Th. Kreis:
Handbook of Holographic Interferometry (Optical and Digital Methods), ISBN 3-527-40546-1, Wiley-VCH, Weinheim 2005.

Th. Kreis:
Holographic Interferometry: Principles and Methods, Akademie-Verlag 1996.

Th. Kreis:
Auswertung holografischer Interferenzmuster mit Methoden der Ortsfrequenzanalyse. Fortschritt-Berichte VDI, Reihe 8, Nr. 108, VDI-Verlag, 1986.

Bücher (als Herausgeber)

Th. Kreis (Ed.):
Werkzeug Laser – Industrieller Fortschritt durch wissenschaftliche Forschung. Reihe Strahltechnik, Band 20, BIAS-Verlag Bremen, 2002.

W. Jüptner, Th. Kreis (Eds.):
An External Interface for Processing 3-D Holographic and X-Ray Images. Research Reports ESPRIT, Springer-Verlag, 1989.

Buchkapitel

Th. Kreis, W. Jüptner, U. Schnars:
Tele-Metrology Based on Digital Holography, Chap. 7 in T. C. Poon (Ed.), Digital Holography and 3-D Display, Springer-Verlag, 213 - 234, 2006.

Th. Kreis:
Digital Holographic Interferometry, Chapter in ´Trends in Optical Nondestructive Testing´, P. Rastogi and D. Inaudi (Eds.), Elsevier Science B. V. London, 113 – 127, 2000.

Th. Kreis, H.-J. Hartmann:
Kohärent-optische Meßverfahren und Anwendungen, In Laser - Von der Wissenschaft zur Anwendung, Reihe Strahltechnik Bd. 10, 283 - 297, 1997.

Th. Kreis:
Computer-Aided Evaluation of Holographic Interferograms. Chap. 6 in P. K. Rastogi (Ed.): Holographic Interferometry. Springer Series in Optical Sciences, Vol. 68, Springer-Verlag, 151 - 212, 1994.

Th. Kreis:
Deformation measurement byholographic interferometry. Chap. 3 in W. Jüptner, Th. Kreis (Eds.): An External Interface for Processing 3-D Holographic and X-Ray Images. Research Reports ESPRIT, Springer-Verlag, 9 – 44, 1989.

Th. Kreis, H. Kreitlow, W. Jüptner:
Automatisierte digitale Verarbeitung holografischer Interferenzmuster. Informatik-Fachberichte, vol. 29, Springer-Verlag, 38 - 47, 1980.

Begutachtete Veröffentlichungen

H. H. Wahba, Th. Kreis:
Digital holographic interferometric characterization of bent optical fibers, J. Opt. A: Pure and Appl. Opt., 11, 105407(11pp), 2009.

H. H. Wahba, Th. Kreis:
Characterization of graded index optical fibers by digital holographic interferometry, Appl. Opt., 48(8), 1573 – 1582, 2009.

Er. Kolenovic, El. Kolenovic, Th. Kreis, Chr. von Kopylow, W. Jüptner:
Determination of large-scale out-of-plane displacements in digital Fourier holography, Appl. Opt., 46(16), 3118 – 3125, 2007.

Th. Kreis, K.Schlüter:
Resolution enhancement by aperture synthesis in digital holography. Opt. Eng. 46(5), 0558031 - 0558037, 2007

Th. Kreis, J. Müller, Chr. Von Kopylow, W. Jüptner:
Noncontacting measurement of distortion by digital holographic interferometry, Materialwissenschaft und Werkstofftechnik, vol. 37(1) , 76 – 80, 2006.

Th. Kreis, W. Jüptner, J. Becker, A. Henrichs:
Telescience and interferometric metrology on the International Space Station, Acta Astronautica, vol. 57, 800 - 810, 2005.

Th. Kreis:
Frequency analysis of digital holography with reconstruction by convolution, Opt. Eng., vol. 41(8), 1829 – 1839, 2002.

Th. Kreis:
Frequency analysis of digital holography, Opt. Eng., vol. 41(4), 771 – 778, 2002.

Th. Kreis, P. Aswendt, R. Höfling:
Hologram reconstruction using a digital micromirror device, Opt. Eng., vol. 40(6), 926 - 933, 2001.

Th. Kreis, W. Jüptner:
The suppression of the d.c.-term in digital holography, Opt. Eng., vol 36(8), 2357-2360, 1997.

U. Schnars, Th. Kreis, W. Jüptner:
Digital recording and numerical reconstruction of holograms: reduction of the spatial frequency spectrum, Opt. Eng. vol. 35, no. 4, 977 - 982, 1996.

Th. Kreis, W. Jüptner, R. Biedermann:
Neural network approach to holographic nondestructive testing. Appl. Opt. vol. 34, 1407 - 1415, 1995.

Th. Kreis:
Computer Aided Evaluation of Fringe Patterns. Optics and Lasers in Eng. vol. 19, 1 - 19, 1993.

Th. Kreis, W. Osten:
Automatische Rekonstruktion von Phasenverteilungen aus Interferogrammen. tm - Techn. Messen, vol. 58, no. 6, 235 - 246, 1991.

W. Jüptner, Th. Kreis, J. Geldmacher, Th. Bischof:
Klebfehler mit holografischer Interferometrie detektieren. Qualität und Zuverlässigkeit, vol. 36, no. 7, 417 - 423, 1991.

Th. Kreis:
Methoden zur Auswertung holografischer Interferenzmuster: ein Vergleich. Laser und Optoelektronik, vol. 21, no. 2, 54 - 61, 1989.

H. Kreitlow, Th. Kreis, W. Jüptner:
Holographic interferometry with reference beams modulated by the object motion. Appl. Opt., vol. 26, no. 19, 4256 - 4262, 1987.

W. Jüptner, Th. Kreis, R. Rothe, G. Sepold:
Qualitätssicherung beim Laserstrahlschweißen durch Auswertung der Plasmadynamik. Qualität und Zuverlässigkeit, vol. 32, no. 1, 23 - 28, 1987.

Th. Kreis, W. Jüptner:
Bestimmung von Bauteilfehlern durch ein kombiniertes Verfahren von holografischer Interferometrie und Finite-Elemente-Methode. VDI-Berichte, vol. 631, 139 - 151, 1987.

W. Jüptner, Th. Kreis, R. Becker:
Automatisierte Sichtprüfung beim Beschichten metallischer Oberflächen. Qualität und Zuverlässigkeit, vol. 29, no. 5, 203 - 207, 1986.

Th. Kreis:
Digital holographic interference-phase measurement using the Fourier-transform method. Journ. Opt. Soc. Amer. A, vol. 3, no. 6, 847 - 855, 1986. Reprinted in P. Hariharan, D. Malacara (Eds.), „Selected Papers on Interference, Interferometry, and Interferometric Metrology“, SPIE Milestone Series, vol. MS 110, 337 - 345, 1996.

Th. Kreis, H. Kreitlow, W. Jüptner:
Shape measurement of large scale technical objects by the light intersection method using laser scanner and video-systems. ACTA IMEKO, 229 - 234, 1982.

Tagungsbeiträge

Th. Meeser, S. Huferath-von Lüpke, Th. Kreis:
Digital holographic recording of large scale objects for metrology and display. Proc. Fringe 2009, 2009.

H. H. Wahba, Th. Kreis:
Characterization of optical fibers by digital holographic interferometry. Proc. SPIE, vol. 7389, 73890K-1--73890K-12, 2009.

M. Agour, Th. Kreis:
Experimental Investigation of Holographic 3D-TV Approach. Proc. of 3DTV-Conf.: The True Vision - Capture, Transmission and Display of 3D Video Potsdam, 2009.

Th. Kreis:
Digital Holography Methods in 3D-TV, Proc. of 3DTV-Con 01, Kos, 2007.

D. Kayser, Th. Kreis, W. Jüptner:
Compression of digital holographic data using ist electromagnetic field properties, Proc. SPIE, vol. 5908, 59080C1 – 59080C9, 2005.

Th. Kreis, D. Kayser:
Resolution increase by aperture synthesis in digital holography, Proc. SPIE, vol. 5880, 58800F1 - 58800F8, 2005.

D. Kayser, Th. Kreis, W. Jüptner:
Effective compression of digital holograms for non-destructive testing purposes, Proc. of the 12th Intern. Conf. on Experimental Mechanics, C. Pappalettere (Ed.), Series: Advances in Experimental Mechanics, McGraw-Hill, 460ff., 2004.

Th. Kreis, M. Adams, W. Jüptner:
Aperture synthesis in digital holography, in `Interferometry XI: Techniques and Analysis, Proc. SPIE, vol. 4777, 69 – 76, 2002.

M. Adams, Th. Kreis, W. Jüptner:
Effects of the Thermally Induced Refraction Gradient on the Analysis of Particles in Spray Cones, in `Proc. of Spray Deposition and Melt Atomization Conf.`, 715 – 724, 2000.

M. Adams, Th. Kreis, W. Jüptner:
Particle Analysis with Digital Holography, in `Laser Interferometry X: Applications`, Proc. SPIE, vol. 4101B, 314 – 320, 2000.

Th. Kreis:
Digital Holography for Metrologic Applications (Invited Paper), in ´Interferometry in Speckle Light´, P. Jacquot and J.-M. Fournier (Eds.), Springer Verlag, 205 - 212, 2000.

Th. Kreis, M. Adams, W. Jüptner:
Digital in-line holography in particle measurement, in `Interferometry 99: Techniques and Technology`, Proc. SPIE, vol. 3744, 54 - 64, 1999.

Th. Kreis:
Digital holography and holographic interferometry (Invited Keynote Lecture), Proc. of EUROMECH 406-Colloquium on Image Processing Methods in Applied Mechanics, Warschau, 19 - 22, 1999.

Th. Kreis:
Digital Holography: Concepts and Applications (Special Invited Lecture), Proc. of Annual Meeting of the Society for Experimental Mechanics 99, Cincinnati, 335 - 338, 1999.

Th. Kreis, W. Jüptner, J. Geldmacher:
Digital Holography: Methods and Applications, Int. Conf. On Applied Optical Metrology, Proc. SPIE, vol. 3407, 169 - 177, 1998.

Th. Kreis, W. Jüptner, J. Geldmacher:
Principles of Digital Holographic Interferometry, Laser Interferometry IX: Techniques and Analysis, Proc. SPIE, vol. 3478, 45 - 54, 1998.

M. Adams, Th. Kreis, W. Jüptner:
Partikelanalyse mittels digitaler Aufzeichnung von Beugungsbildern und numerischer Rekonstruktion, In W. Merzkirch, F. Peters, B. Ruck, D. Dopheide, A. Leder (Eds.), Lasermethoden in der Strömungsmeßtechnik, 6. GALA-Fachtagung, Shaker-Verlag, 22.1 - 22.5, 1998.

Th. Kreis, M. Adams, W. Jüptner:
Methods of digital holography: A comparison (Invited paper), In C. Gorecki (Ed.), Conference on Optical Inspection and Micromeasurements II, Proc. SPIE, vol. 3098, 224 - 233, 1997.

M. Adams, Th. Kreis, W. Jüptner:
Particle size and position measurement with digital holography, In C. Gorecki (Ed.), Conference on Optical Inspection and Micromeasurements II, Proc. SPIE, vol. 3098, 234 - 240, 1997.

Th. Kreis, W. Jüptner:
Principles of digital holography, In W. Jüptner, W. Osten (Eds.), Fringe ´97, Proc. of 3rd International Workshop on Automatic Processing of Fringe Patterns, 353 - 363, 1997.

Th. Kreis, R. Biedermann, W. Jüptner:
Evaluation of holographic interference patterns by artificial neural networks. In M. Kujawinska, R. J. Pryputniewicz and M. Takeda (Eds.), Interferometry VII: Techniques and Analysis, Proc. SPIE, vol. 2544, 11 - 24, 1995.

U. Schnars, Th. Kreis, W. Jüptner:
CCD-recording and numerical reconstructionof holograms and holographic interferograms. In M. Kujawinska, R. J. Pryputniewicz and M. Takeda (Eds.), Interferometry VII: Techniques and Analysis, Proc. SPIE, vol. 2544, 57 - 63, 1995.

Th. Kreis, R. Biedermann, W. Jüptner:
Auswertung holografischer Interferenzmuster mit künstlichen neuronalen Netzen. In W. Waidelich (Ed.): Laser 95 - Optoelektronik in der Technik, Springer-Verlag, 478 - 484, 1995.

U. Schnars, Th. Kreis, W. Jüptner:
Numerische Rekonstruktion von Hologrammen in der interferometrischen Meßtechnik. In W. Waidelich (Ed.): Laser 95 - Optoelektronik in der Technik, Springer-Verlag, 489 - 493, 1995.

W. Jüptner, Th. Kreis, U. Mieth, W. Osten:
Application of neural networks and knowledge based systems for automatic identification of fault indicating fringe patterns. In R. J. Pryputniewicz and J. Stupnicki (Eds.), Interferometry 94: Photomechanics, Proc. SPIE, vol. 2342, 16 - 26, 1994.

Th. Kreis, J. Geldmacher, W. Jüptner:
Phasenschiebe-Verfahren in der interferometrischen Meßtechnik: ein Vergleich. In W. Waidelich (Ed.): Laser 93 - Optoelektronik in der Technik, Springer-Verlag, 119 - 126, 1993.

J. Geldmacher, Th. Kreis, W. Jüptner:
Digitale Scherografie mit Hilfe von Phasenschiebe-Verfahren. In W. Waidelich (Ed.): Laser 93 - Optoelektronik in der Technik, Springer-Verlag, 143 - 147, 1993.

Th. Kreis, J. Geldmacher, W. Jüptner:
A Comparison of Interference Phase Determination Methods with Respect to Achievable Accuracy. In Osten et al. (Eds.), Fringe 93 - Automatic Processing of Fringe Patterns, Physical Research Series, Akademie-Verlag Berlin, 51 - 59, 1993.

W. Jüptner, J. Geldmacher, Th. Bischof, Th. Kreis:
Measurement of the deformation of a pressure vessel above a weld point. In R. J. Pryputniewicz, G. M. Brown, W. Jüptner (Eds.), Interferometry: Applications, Proc. SPIE, vol. 1756, 98 - 105, 1993.

Th. Kreis:
Computer aided evaluation of fringe patterns (Keynote lecture). In Appl. Opt. Div. of IOP, FASIG (Eds.), Proc. of Applied Optics and Opto-Electronics Conference - Leeds, 15 - 30, 1992.

Th. Kreis, W. Jüptner, J. Geldmacher:
Methoden zur quantitativen Auswertung von Interferenzmustern: ein Vergleich. In W. Waidelich (Ed.): Laser 91 - Optoelektronik in der Technik, Springer-Verlag, 55 - 62, 1991.

Th. Kreis:
Review of digital processing of holographic interferograms (Invited paper). In P. Smigielski (Ed.), Troisieme Colloque Franco-Allemand sur les Applications de l´Holographie, ISL Saint Louis, 1991.

Th. Kreis, J. Geldmacher:
Evaluation of interference patterns: a comparison of methods. In F. P. Chiang (Ed.), Second Intern. Conf. on Photomechanics and Speckle Metrology. Proc. SPIE, vol. 1554, 718 - 724, 1991.

Th. Kreis, W. Jüptner:
Fourier-transform evaluation of interference patterns: demodulation and sign-ambiguity. In R. J. Pryputniewicz (Ed.), Laser Interferometry IV: Computer-Aided Interferometry. Proc. SPIE, vol. 1553, 263 - 273, 1991.

Th. Kreis:
Computer aided evaluation of holographic interferograms (Invited paper). In K. Stetson and R. Pryputniewicz (Eds.), Intern. Conf. on Hologram Interferometry and Speckle Metrology, Soc. Exp. Mech., 537 - 540, 1990.

Th. Kreis, J. Schörner:
Fourier-Transformations-Verfahren zur Auswertung von Streifenmustern in der industriellen holografischen Prüftechnik. In BMFT Statusseminar Holografische Meßtechnik, Hrsg. VDI TZ Physikalische Technologien, 77 - 92, 1990.

Th. Kreis, W. Jüptner:
Fourier-transform evaluation of interference patterns: the role of filtering in the spatial frequency domain (Invited paper). In R. J. Pryputniewicz (Ed.), Laser Interferometry: Quantitative Analysis of Interferograms. Proc. SPIE, vol. 1162, 116 - 125, 1989.

Th. Kreis:
Evaluation of interference patterns by the Fourier-transform method. In Osten et al. (Eds.), Fringe 89 - Automatic Processing of Fringe Patterns, Physical Research Series, Akademie-Verlag Berlin, 95 - 100, 1989.

Th. Kreis:
Quantitative evaluation of holographic interferograms by the Fourier transform method. In P. Smigielski (Ed.), Deuxieme Colloque Franco-Allemand sur les Applications de l´Holographie, ISL Saint Louis, 45 - 59, 1988.

Th. Kreis, W. Jüptner:
Digital Processing of holographic interference patterns using Fourier-transform methods. IMEKO Symposium on Laser Applications in Precision Measurements, Budapest 1986. Reprinted in Measurement, vol. 6, no. 1, 37 - 40, 1988.

Th. Kreis:
Automatic evaluation of interference patterns (Invited Paper). In W. Jüptner (Ed.), Holography Techniques and Applications. Proc. SPIE, vol. 1026, 80 - 89, 1988.

W. Jüptner, Th. Kreis, J. Geldmacher:
Determination of absolute fringe order in hologram interferometry with wavelength controlled lasers. In M.Y.Y. Hung, R. J. Pryputniewicz (Eds.), Industrial Laser Interferometry II. Proc. SPIE, vol. 955, 143 - 146, 1988.

Th. Kreis, K. Rösener, W. Jüptner:
Holografisch interferometrische Verformungsmessung mit dem Fourier-Transformations-Verfahren. In W. Waidelich (Ed.), Laser 87 - Optoelektronik in der Technik, Springer-Verlag, 159 - 165, 1987.

K. Rösener, Th. Kreis, W. Jüptner:
Holografisch interferometrische Verformungsmessung mit dem Phase-Step-Verfahren. In W. Waidelich (Ed.), Laser 87 - Optoelektronik in der Technik, Springer-Verlag, 166 - 170, 1987.

Th. Kreis:
Fourier-transform evaluation of holographic interference patterns. In F. P. Chiang (Ed.), Intern. Conf. on Photomechanics and Speckle Metrology. Proc. SPIE, vol. 814, 365 - 371, 1987.

Th. Kreis:
Quantitative evaluation of interference patterns (Invited paper). In W. F. Fagan (Ed.), Industrial Optoelectronic Measurement Systems using Coherent Light. Proc. SPIE, vol. 863, 68 - 77, 1987.

W. Jüptner, Th. Kreis:
Holographic NDT and visual inspection in production line applications. In C. Vest (Ed.), Holographic nondestructive testing: status and comparison with conventional methods. Proc. SPIE, vol. 604, 30 - 36, 1986.

H.-A. Crostack, W. Jüptner, Th. Kreis, A. Krüger, K.-J. Pohl:
Ortsfrequenzanalyse holografischer Interferenzstreifensysteme zur automatischen Fehlerdetektion. In W. Waidelich (Ed.), Laser 85 - Optoelektronik in der Technik, Springer-Verlag, 289 - 300, 1985.

Th. Kreis, H. Kreitlow, W. Jüptner:
Die holografische Interferometrie als Dienstleistung für eine wirtschaftliche experimentelle Spannungsanalyse. In W. Waidelich (Ed.), Laser 85 - Optoelektronik in der Technik, Springer-Verlag, 301 - 306, 1985.

Th. Kreis, H. Kreitlow, W. Jüptner, G. Sepold:
Sensorsystem auf der Basis eines Laserscanners zur Kantenfindung in der Materialbearbeitung. In W. Waidelich (Ed.), Laser 83 - Optoelektronik in der Technik, Springer-Verlag, 118 - 123, 1983.

W. Jüptner, Th. Kreis, H. Kreitlow:
Automatic evaluation of holographic interferograms by reference beam phase shifting. In W. F. Fagan (Ed.), Industrial Applications of Laser Technology. Proc SPIE, vol. 398, 22 - 29, 1983.

Th. Kreis:
Holografische Interferometrie an nichtschwingungsisolierten Bauteilen, Anwendungen in der Bruchmechanik, quantitative Auswertung der Interferogramme. In Proc. VDI-Workshop Holografische Interferometrie, Berlin, 1983.

H. Kreitlow, Th. Kreis, W. Jüptner:
Optimierung der automatisierten Auswertung von Specklegrammen beim Einsatz eines schnellen Fouriertransformators. In W. Waidelich (Ed.), Laser 83 - Optoelektronik in der Technik, Springer-Verlag, 159 - 164, 1983.

W. Jüptner, Th. Kreis, G. Sepold:
Optimization of Laser Beam Welding Parameters by Theoretical Calculation of Temperature Distributions and Vapor Channels. In Proc. of 2nd German-Japan Colloquium on Welding Technology and Economics, DVS, JWS, JWES, 163 - 172, 1983.

Th. Kreis, H. Kreitlow, W. Jüptner:
Edge Detection by Light Intersection using a Video-System. In Proc. of 2nd Intern. Conf. on Robot Vision and Sensory Controls. IFS Publ. Ltd., 9 - 17, 1982.

Th. Kreis, B. Fischer, W. Jüptner, G. Sepold:
Automatisierte Auswertung holografischer Interferenzmuster bei der Untersuchung von Zugproben. In W. Waidelich (Ed.), Laser 81 - Optoelektronik in der Technik, Springer-Verlag, 105 - 110, 1981.

G. Sepold, B. Fischer, Th. Kreis, H. Kreitlow:
Bewertung lokaler Inhomogenitäten im Innern von Bauteilen aus holografisch interferometrischen Verformungsmessungen. In W. Waidelich (Ed.), Laser 81 - Optoelektronik in der Technik, Springer-Verlag, 100 - 104, 1981.

Th. Kreis, H. Kreitlow:
Digital processing of holographic interference patterns. In Technical Digest of Topical Meeting on Hologram Interferometry and Speckle Metrology. Opt. Soc. Amer., 1980.

Th. Kreis, H. Kreitlow:
Quantitative evaluation of holographic interference patterns under image processing aspects. In P. Meyrueis, M. Grosmann (Eds.), 2nd European Congress on Optics applied to Metrology. Proc. SPIE, vol. 210, 196 - 202, 1979.

H. Kreitlow, Th. Kreis:
Automatic evaluation of Young´s fringes related to the study of in-plane-deformations by speckle techniques. In P. Meyrueis, M. Grosmann (Eds.), 2nd European Congress on Optics applied to Metrology. Proc. SPIE, vol. 210, 18 - 24, 1979.

H. Kreitlow, Th. Kreis:
Entwicklung eines Gerätesystems zur automatisierten statischen und dynamischen Auswertung holografischer Interferenzmuster. In W. Waidelich (Ed.), Laser 79 Opto-Electronics Conf., IPC Science and Technology Press, 426 - 436, 1979.

Th. Kreis:
Lokalisation holografischer Interferenzmuster. In DPG, DGaO (Eds.), Frühjahrsschule 78 - Holografische Interferometrie in Technik und Medizin. 1978.

Unbegutachtete Artikel

Th. Kreis:
Digital holography and holographic interferometry, Machine Graphics and Vision, vol. 8, no. 4, 611 – 624, 1999.

Th. Kreis:
Digital Holography, Notes on a Short Course presented at Nanyang Technological University, Singapore, 1999.

Th. Kreis:
Digital Holography, Notes on a Short Course presented at Institute of Micromechanics and Photonics, Warsaw University of Technology, 1999.

Th. Kreis:
Lasermeßtechnik. Skript zum Seminar. Haus der Technik, Essen, 1990, 1991, 1992, 1993, 1994, 1995, 1996.

Th. Kreis:
Lasergestützte Messtechnik in Fertigung und Qualitätssicherung. Skript zum Seminar. Haus der Technik, Essen, 1998, 2000.

Th. Kreis:
Auswertung holografischer Interferenzmuster mit dem Fourier-Transformations-Verfahren. In H. Kohler (Ed.), Laser-Jahrbuch 87. Vulkan-Verlag, 178 - 186, 1988.

Th. Kreis, H. Kreitlow, W. Jüptner:
Holografische Interferometrie, Stand der Technik und zukünftige Entwicklungen. VDI-Technologiezentrum Berlin, 1982.