Proceedings

Kayser, D.; Bothe, T.; Osten, W.
Scaled multisensor inspection of extended surfaces for industrial quality control
K. Creath, J. Schmit (Eds.), Interferometry XI: Techniques and Analysis, Proc. SPIE 4777 (2002) 242-250

Thomy, C.; Sepold, G.; Seefeld, T.; Walz, C.; Hoffmann, R.; Stiebe-Springer, I.; Kocak, M.; Segar, R.
Industrial implementation of laser/GMA welding and mechanical properties of the welds
Proc. Supermartensitic Steels, ed: A. Dhooge, KCI Publishing BV (2002) 147-155

Kallmeyer, F.; Krueger, S.;Wernicke, G.;Gruber, H.; Demoli, N.; Osten, W.;Kayser, D.
Optical processing for the detection of faults in interferometric patterns
K. Creath, J. Schmit (Eds.), Interferometry XI: Techniques and Analysis, Proc. SPIE 4777 (2002) 371-381

Bothe, Th.; Li, W.; Osten, W.; Jüptner, W.
Generation and evaluation of object adapted inverse fringe patterns
Proc. Intern Symposium Photonics in Measurement. VDI-Berichte 1694, Düsseldorf (2002) 299-304

Kallmeyer, F.; Krüger, S.; Wernicke, G.; Gruber, H.; Osten, W.; Kayser, D.; Demoli, N.
Holographisch-interferometrische Messung zur Bestimmung des Eigenspannungszustandes von Widerstands- Punktschweißverbindungen
VDI-Berichte 1694, VDI-Verlag (2002) 35-40

Burke, J.; Bothe, T.; Osten, W.; Hess, C.
Reverse engineering by fringe projection
Proc. SPIE Vol.4778, (2002), 312-324

Osten, W.; Elandaloussi, F.; Mieth, U.
Reverse engineering by fringe projection
Novosibirsk (2002)

Kalms, M.; Osten, W.; Jüptner, W.
Lösung von Übertragungsproblemen beim Einsatz optischer Feldmeßverfahren für die Vermessung von Mikrokomponenten
Technisches Messen, 5 (2002) 217-226

Osten, W.; Jüptner, W.
Vacuum- ultraviolet beam array generation by flat micro-optical structures
Sonderheft Technisches Messen 5 (2002)

Grunwald, R.; Kebbel, V.; Griebner, U.; Nibbering, E.T.J.; Kummrow, A.; Rini, M.
Coherence mapping of femtosecond lasers
CLEO 2002 (2002)

Kayser, D.; Bothe, Th.; Osten, W.
An integrated measurement system for the inspection of extended surfaces in industrial quality control
Proc. Intern Symposium Photonics in Measurement. VDI-Berichte 1694, Düsseldorf (2002) 339-344

Baumbach, T.; Osten, W.; Falldorf, C.; Jüptner, W.
Remote Interferometry by Digital Holography for Shape Control
Proc. SPIE Vol. 4778 (2002) 338-349

Bothe, Th.; Osten, W.; Gesierich, A.; Jüptner, W.
Compact 3D-Camera
Proc. SPIE Vol.4778 (2002) 48-59

Kallmeyer, F.; Krüger, S.; Wernicke, G.; Gruber, H.; Osten, W.; Kayser, D.; Demoli, N.
Optical processing of interferometric fringes and detection of faults by Wavelet filtering
Proc. Intern Symposium Photonics in Measurement. VDI-Berichte 1694, Düsseldorf (2002) 35-40

Burke, J.; Hess, C.; Kebbel, V.
Digital holography for whole field spray diagnostics
International Symposium on Applications of Laser Techniques to Fluid Mechanics, Lissabon 2002, submitted (2002)

Falldorf, C.; Osten, W.; Kolenovic, E.; Jüptner, W.
Features of Multiband Speckle Shearography
Proc. SPIE Vol. 4900b (2002) 1262ff.

Lai, S.; Kolenovic, E.; Osten, W.; Jüptner, W.
A deformation and 3D-shape measurement system based on phase-shifting digital holography
Proc. SPIE Vol. 4537 (2002) 273-276

Kolenovic, E.; Lai, S.; Osten, W.; Jüptner, W.
A miniaturized digital holographic endoscopic system for shape and deformation measurement
Proc. Intern Symposium Photonics in Measurement. VDI-Berichte 1694, Düsseldorf (2002)
79-84

Theiler, C.; Seefeld, T.; Jüptner, W.; Frank, H.; Wilden, J.
Untersuchungen der metallurgischen Grundlagen zum Herstellen gerichtet erstarrter Titanaluminid-Bauteile mit hohen Abkühlraten und kurzen Einwirkzeiten
Kurzzeitmetallurgie; Strahltechnik Bd. 18, BIAS-Verlag, Bremen (2002) 189-199

Schulze Niehoff, H., Vollertsen, F.
Principle of hydroforming influenced by high viscous fluid flows
Advanced Technology of Plasticity (Proc. 7th ICTP) 2 (2002) 1447-1452

Grunwald, R.; Griebner, U.; Neumann, U.; Kummrow, A.; Nibbering, E.T.J.; Rini, M.; Kebbel, V.; Piché, M.; Rousseau, G.; Fortin, M.
Femtosecond laser beam shaping with structured thin-film elements
ICAPT / Photonics North Quebec, Canada (accepted as contributed paper), submitted to Proc. SPIE 4833-51 (2002)

Baierl, R.; Bomas, H.; Mayr, P.; Schnack, S.; Kienzler, R.; Grupp, M.; Habedank, G.; Jüptner, W.
Optimierung des gepulsten Laserhärtens und Anlassens zur Verbesserung der Dauerfestigkeit von Komponeneten mit bauteilähnlichen Geometrien
Kurzzeitmetallurgie; Strahltechnik Bd. 18, BIAS-Verlag, Bremen (2002) 109-139

Grunwald, R.; Kebbel, V.; Griebner, U.; Nibbering, E.T.J.; Kummrow, A.; Rini, M.; Elsaesser, T.; Jüptner, W.
Spectral shaping of femtosecond X-waves
CLEO 2002 (2002)

Grunwald, R.; Griebner, U.; Neumann, U.; Kummrow, A.; Nibbering, E.T.J.; Piché, M.; Rousseau, G.; Fortin, M.; Kebbel, V.
Generation of ultrashort-pulse nondiffracting beams and X-waves with hin-film axicons
13th Int. Conf. on Ultrafast Phenomena, Vancouver, Canada; in: Proc. Ultrafast Phenomena XIII, Springer, New York (2002)

Müller, J.; Kebbel, V.; Jüptner, W.
Digital holography as a tool for testing transparent high-aperture micro-optics
Proc. Photon02, Cardiff UK (2002) 78-79

Kebbel, V.; Müller, J.; Jüptner, W.
Characterization of aspherical micro-optics using digital holography: improvement of accuracy
Proc. SPIE Vol.4778 (2002) 188-197

Kebbel, V.; Kalms, M.; Jüptner, W.
Scherografie als mobiles Prüfsystem für industrielle Anwendungen
EOS-Workshop Optatec, Frankfurt (2002)

Zeitschriften

Elandaloussi, E.; Osten, W.; Jüptner, W.
Bound polarons in semiconductor nanostructures
Technisches Messen, 5 (2002) 227-235

Wernicke, G.; Krüger, S.; Kallmeyer, F.; Gruber, H.; Osten, W.; Kayser, D.; Demoli, N.
Anwendung von Waveletfiltern in einem optischen Prozessor zur automatischen Fehlererkennung in Interferogrammen
Technisches Messen, 5 (2002) 236-239